磁性颗粒光谱仪，用于表征铁磁颗粒

磁颗粒光谱法（MPS）是一种用于表征在使用中的铁磁对比剂的新测量方法磁性粒子成像（MPI）。MPS需要磁性颗粒光谱仪，例如来自纯设备的MPS单元。在MPS中，将正弦信号应用于样品。由于样品的磁化曲线的非线性性，获得的信号包含较高的谐波。样品的磁特性可以通过此信息来计算。因此，MPS已成为表征和优化用于MPI或磁共振成像（MRI）的磁性颗粒的标准方法。

我们的MPS软件可以执行简单的“一键”实验以及高级测量。经验丰富的用户可以单独访问和更改所有参数。除了每次测量的自动报告生成外，还可以访问获得的原始数据。